• Menyederhanakan pengujian LIV dioda laser sebelum pengemasan atau kontrol suhu aktif
• Solusi terintegrasi untuk pengujian produksi LIV dalam proses dioda laser pada level chip atau bar
• Sweep dapat diprogram untuk berhenti pada batas daya optik
• Menggabungkan sumber akurasi tinggi dan kemampuan mengukur untuk pengujian berdenyut dan DC
• Saluran pengukuran berbasis DSP yang disinkronkan memastikan pengukuran intensitas cahaya dan voltase yang sangat akurat
• Pulsa yang dapat diprogram tepat waktu dari 500ns hingga 5ms hingga siklus tugas 4%.
• Kemampuan pulsa hingga 5A, kemampuan DC hingga 1A
• Akurasi pengukuran 14-bit pada tiga saluran pengukuran (VF, fotodioda depan, fotodioda belakang)
• Algoritme pengukuran meningkatkan rasio sinyal-tonoise pengukuran pulsa
• Sapuan hingga 1000 titik yang disimpan dalam memori buffer menghilangkan lalu lintas GPIB selama pengujian, sehingga meningkatkan throughput
• Operasi binning dan penanganan I/O digital
• Antarmuka IEEE-488 dan RS -232

Spesifikasi

• (1) Sistem Uji Dioda Laser Berdenyut dengan Kepala Uji Jarak Jauh
• (1) Panduan Pengguna
• (1) Panduan Referensi Cepat
• (2) Kabel Triax
• (4) Kabel Koaksial BNC 10W

Brosur/Lembar Data

Instruksi Manual

Unduh

Catatan: Harga tidak mengikat sewaktu waktu dapat berubah tanpa pemberitahuan lebih dahulu